Impurity behavior in high performance radiative discharges of JT-60U

櫻井 真治; 久保 博孝; 竹永 秀信; 朝倉 伸幸; 玉井 広史; 石島 達夫*; 木島 滋; 伊丹 潔; 逆井 章; 東島 智; et al.

Journal of Nuclear Materials, 290-293, p.1002 - 1008, 2001/03

https://doi.org/10.1016/S0022-3115(00)00475-X

JT-60UのW型ダイバータで不純物ガス入射実験を行い、主プラズマ中の不純物粒子の輸送特性を評価した。また、不純物ガスによる主プラズマ周辺部の放射促進の効果を調べた。(1)ガスパフ変調法を用いてELMy H-modeと内部輸送障壁が有る負磁気シアについてHe及びNeの輸送特性を調べた。内部輸送障壁では拡散係数が約1/10に低下するとともに高Z不純物ほど内向きの対流速度が大きくなることを示した。(2)ELMy H-modeにArガスを入射し主プラズマ周辺部の放射損失を促進すると、少ない重水素供給量でプラズマ密度が上昇し、温度が高く保たれ、高密度領域で閉じ込め性能の劣化を避けることができた。Ar入射時には高密度で蓄積エネルギー中の熱化成分が増加することを示した。また、Ar入射時にELMの周期が延びるが、外側ダイバータへ流入する個々のELMの熱量は増加せず、プラズマ対向機器の負荷が低減されることを示した。